冷热冲击试验箱用途：蓄温式冷热冲击试验箱为待测品静置之冷、热交替冲击方式,广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化学、材料等测试设备。

三箱式冷热冲击试验箱此设备区分为高温区，低温区，测试区三部份，采独特之断热结构及蓄热、蓄冷效果，应用冷热风路切换方式导入试品中，做冷热冲击测试，待测品为不移动之方式。
采用原装日制微电脑大型液晶LCD（320 x 240 Dots）中英文显示控制系统。
高程序记忆容量，可设定储存 100 组程序，最大循环设定 9999 Cycles，每段时间最大设定 999 Hrs 59Mins。
具有RS-232C通信接口装置，可与计算机联机操控／编辑／记录及二组动态接点（Time Signal Relay），使用便捷。
执行冷热冲击条件时，可选择 2 Zone 或 3 Zone之功能。
具备全自动，高精度系统回路，任一机件动作，完全由P.L.C. 锁定处理。
机件固障时，配有自动机回路及警示讯号。发现输入电力不稳定时，具有紧急停机装置。

冷热冲击试验箱型号：

DYTH-50-3AS 测试区尺寸： W360XH350XD400mm

DYTH-80-3AW测试区尺寸：W500XH400XD400mm

DYTH-150-3AQ测试区尺寸：W600XH500XD500mm

DYTH-225-3AS测试区尺寸：W700XH600XD600mm

冷热冲击试验箱技术规格：

高温槽温度范围：+60 ~200℃.
低温槽温度范围：-10℃~-70℃
实验箱冲击温度：高温 +60～150℃.低温 S：(-10～ -40℃) W：(-10～ -55℃)Q：( -10～ -65℃)
高低温转换时间：≤10S
高低温恢复时间：3~5min（非线性空载下）
控制精度：温度±0.2℃（指控制器设定值和控制器实测值之差）
温度波动度：≤0.5℃（温度波动度为中心点实测最高温度和最低温度之差的一半）
温度误差：≤±1℃（工作室温度控制器显示值的平均温度减去中心点实测的平均温度）
温度均匀度：≤2.0℃（温度均匀度为每次测试中实测最高温度和最低温度之差的算术平均值）
预热区升温速度： ≥3℃/min（非线性）
预冷区降温速度： ≥2℃/min（非线性）
外壳材料：SUS＃304耐热耐寒不锈钢板，一级光面板（也可以做烤漆型处理）
内箱材料：SUS＃304耐热耐寒不锈钢板，一级光面板
保温材料：高密度玻璃棉及高强度PU发泡绝缘材料